具备A扫、B扫、C扫、CB扫、P扫和TOFD成像；单次扫查能记录长达20米；满足NB/T47013、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、CEN14751、NEN1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规的指标要求；具有NB/T47013.10-2015推荐使用的TOFD缺陷测长功能—合成孔径聚焦（SAPT），还原缺陷特征。
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